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納米粒度及Zeta電位分析儀的工作原理是什么?

 更新時(shí)間:2023-07-12 點(diǎn)擊量:1804
  納米粒度及Zeta電位分析儀是一種常用于表征納米顆粒的工具,它能夠提供顆粒尺寸、分布以及顆粒表面電荷特性等信息。其工作原理基于光散射和電動(dòng)力學(xué)相互作用。
 
  納米粒度分析儀主要通過(guò)光散射現(xiàn)象來(lái)確定樣品中顆粒的尺寸和分布。其工作步驟如下:
 
  1、激光發(fā)射:儀器會(huì)發(fā)射一束激光光束至樣品中。
 
  2、光散射:激光光束與樣品中的顆粒相互作用,并以不同的角度散射出去。
 
  3、探測(cè)與分析:儀器收集被散射的光并進(jìn)行探測(cè)。通過(guò)檢測(cè)不同角度上的散射強(qiáng)度,可以計(jì)算得到顆粒的大小和分布。
 

納米粒度及Zeta電位分析儀

 

  Zeta電位分析儀用于測(cè)量液體中顆?;蚪缑娴碾姾蔂顟B(tài),即顆粒的表面電勢(shì)。其工作步驟如下:
 
  1、電場(chǎng)應(yīng)用:樣品被置于一個(gè)電極中,并施加外部電場(chǎng)。
 
  2、電荷分散:在電場(chǎng)的作用下,顆粒會(huì)帶上相應(yīng)的電荷并分散在液體中。
 
  3、核心殼層:顆粒表面的電荷會(huì)形成一個(gè)電荷雙層,其中核心層為吸附的離子,外層為對(duì)離子的溶劑化層。
 
  4、Zeta電位測(cè)量:通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的移動(dòng)速度來(lái)計(jì)算其Zeta電位。移動(dòng)速度越快,表示顆粒表面電勢(shì)越高。
 
  納米粒度及Zeta電位分析儀常常被結(jié)合使用,以提供更全面的顆粒特性信息。它們廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域,幫助研究人員深入了解納米顆粒的尺寸、分布和表面電荷等關(guān)鍵參數(shù),從而指導(dǎo)材料設(shè)計(jì)和應(yīng)用研究。
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